雜志簡介：《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》雜志經(jīng)新聞出版總署批準，自1980年創(chuàng)刊，國內(nèi)刊號為44-1412/TN，是一本綜合性較強的電子期刊。該刊是一份雙月刊，致力于發(fā)表電子領(lǐng)域的高質(zhì)量原創(chuàng)研究成果、綜述及快報。主要欄目：自動化技術(shù)及設(shè)備、計算機科學與技術(shù)、計量與測試技術(shù)、可靠性與環(huán)境適應性理論研究、可靠性與環(huán)境試驗技術(shù)及評價、仿真建模與分析、軟件...
《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》經(jīng)新聞出版總署批準，自1980年創(chuàng)刊，國內(nèi)刊號為44-1412/TN，本刊積極探索、勇于創(chuàng)新，欄目設(shè)置及內(nèi)容節(jié)奏經(jīng)過編排與改進，受到越來越多的讀者喜愛。
《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》是目前國內(nèi)在電子產(chǎn)品質(zhì)量、可靠性與環(huán)境適應性領(lǐng)域中唯一公開發(fā)行的、具有權(quán)威性和影響力的專業(yè)期刊。
《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》雜志學者發(fā)表主要的研究主題主要有以下內(nèi)容：
（一）可靠性；集成電路；單粒子效應；木馬；電遷移
（二）集成電路；可靠性；總劑量效應；靜電放電；ESD
（三）可靠性；集成電路；單粒子效應；壽命評價；裸芯片
（四）IEC標準；電子類；電氣；ISO；IEC
（五）戰(zhàn)備完好率；RMS；戰(zhàn)備完好性；設(shè)計軟件；可靠性
（六）可靠性；電子元器件；AMSAA模型；電子設(shè)備；軍用
（七）可靠性；電子元器件；塑封微電路；集成電路；VLSI
（八）IEC標準；電子類；電氣；IEC；標準制修訂
（九）集成電路；MESFET；砷化鎵；VLSI；可靠性
（十）可靠性；集成電路；裸芯片；VLSI；SIGE_HBT
1、按學術(shù)研究規(guī)范和編輯部的有關(guān)規(guī)定，認真核對引文、注釋和文中使用的其他資料，確保引文、注釋和相關(guān)資料準確無誤。如使用轉(zhuǎn)引資料，應實事求是注明轉(zhuǎn)引出處。
2、作者限于主要參與論文的寫作、實驗操作、數(shù)據(jù)采集和處理，并能對文稿內(nèi)容負責、解答有關(guān)問題的責任者。作者的排列順序由供稿者確定。
3、題名：簡明、具體、概括文章的要旨，一般不超過20個漢字，可使用副標題。
4、參考文獻：是對引文作者、作品、出處、版本等情況的說明，文中用序號標出，詳細引文情況按順序排列文尾。
5、請作者恪守學術(shù)倫理，文責自負。請勿一稿數(shù)投。
立即指數(shù)：立即指數(shù) (Immediacy Index)是指用某一年中發(fā)表的文章在當年被引用次數(shù)除以同年發(fā)表文章的總數(shù)得到的指數(shù)；該指數(shù)用來評價哪些科技期刊發(fā)表了大量熱點文章，進而能夠衡量該期刊中發(fā)表的研究成果是否緊跟研究前沿的步伐。
引證文獻：又稱來源文獻，是指引用了某篇文章的文獻，是對本文研究工作的繼續(xù)、應用、發(fā)展或評價。這種引用關(guān)系表明了研究的去向，經(jīng)過驗證，引證文獻數(shù)等于該文獻的被引次數(shù)。引證文獻是學術(shù)論著撰寫中不可或缺的組成部分，也是衡量學術(shù)著述影響大小的重要因素。
若用戶需要出版服務，請聯(lián)系出版商，地址：廣州市增城區(qū)朱村街朱村大道西78號，郵編：511370。
